Home > News > News & Notice
◈ 일시 : 2013/08/06 (화)
◈ 시간 : 오후 3시 00분
◈ 장소 : 7호관 234호
◈ 발표자 : 조춘형, 신동재
◈ 발표내용 :
1. The asymmetrical degradation behavior on drain bias stress under illumination for InGaZnO thin film transistors
2. Debye Length and Active Layer Thickness-Dependent Performance Variations of Amorphous Oxide-Based TFTs
관심있는 학부생은 오후 2시 50분까지 참석바랍니다.
OPEN Close
OPEN Close