Prof. Kim`s R.P.

Home > People > Professor > Prof. Kim`s R.P.

  • 32 S. Lee, K.-C. Jeon, J.-U. Lee, S.-W. Kim, S.-H. Seo, K.-S. Roh, G.-C. Kang, K.-Y. Kim, C.-M. Choi, K.-J. Song, S.-R. Park, J.-H. Park, D.-M. Kim, and D.-H. Kim "Optical charge pumping technique for extracting interface states of nano-scale SONOS flash memories" J. of the Korean Phys. Soc., vol. 51, no. 6, pp. 2063-2068, 2007-12 PDF
  • 31 J. B. Choi, S. H. Seo, J. U. Lee, G. C. Kang, S. W. Kim, K. S. Roh, K. Y. Kim, C. H. Lee, S. Y. Lee, H. T. Kim, D. H. Kim, K. S. Min, D. J. Kim, D. W. Kang, J. K. Rhee, and D. M. Kim "Sub-bandgap Optical GIDL Current Method for Extracting the Interface States in the Gate-to-Drain Overlapped Region of MOSFETs" J. of the Korean Phys. Soc., vol. 49, no. 4, pp. 1565-1570, 2006-10 PDF
  • 30 S. W. Kim, J. U. Lee, G. C. Kang, K. S. Roh, S. H. Seo, K. Y. Kim, C. H. Lee, S. Y. Lee, H. T. Kim, D. H. Kim, K. S. Min, D. J. Kim, D. W. Kang, J. K Rhee, and D. M. Kim "Sub-Bandgap Photonic Base Current Method for Extracting the Trap Density at Heterointerfaces in Heterojunction Bipolar Transistors" J. of the Korean Phys. Soc., vol. 49, no. 4, pp. 1558-1564, 2006-10 PDF
  • 29 H. T. Kim, I. C. Nam, K. S. Kim, K. H. Kim, J. B. Choi, J. U. Lee, S. W. Kim, G. C. Kang, D. J. Kim, K. S. Min, D. W. Kang, and D. M. Kim "Extraction of source and drain resistances in MOSFETs using parasitic bipolar junction transistor" Electronics Lett., vol. 41, no. 13, pp. 772-774, 2005-06 PDF
  • 28 I. C. Nam, H. T. Kim, K. S. Kim, K. H. Kim, J. B. Choi, J. U. Lee, S. W. Kim, G. C. Kang, D. J. Kim, K. S. Min, D. W. Kang, and D. M. Kim "Modeling of the Substrate Current and Characterization of Traps in MOSFETs under Sub-Bandgap Photonic Excitation" J. of the Korean Phys. Soc., vol. 45, no. 5, pp. 1283-1287, 2004-11 PDF
  • 27 T. E. Kim, H. T. Kim, H. T. Shin, H. S. Park, K. S. Kim, I. C. Nam, K. H. Kim, J. B. Choi, J. U. Lee, S. W. Kim, G. C. Kang, D. J. Kim, K. S. Min, D. W. Kang, and D. M. Kim "Sub-Bandgap Photonic Gated-Diode Method for Extracting the Distribution of Hot-Carrier-Induced Interface States in MOSFETs" J. of the Korean Phys. Soc., vol. 44, no. 6, pp. 1479-1484, 2004-06 PDF
  • 26 H. T. Shin, K. H. Kim, K. S. Kim, I. C. Nam, J. B. Choi, J. U. Lee, S. W. Kim, H. T. Kim, T. E. Kim, H. S. Park, G. C. Kang, D. J. Kim, K. S. Min, D. W. Kang, and D. M. Kim "Sub-Bandgap Photonic Base Current Method for Characterization of Interface States at Heterointerfaces in Heterojunction Bipolar Transistors" J. of the Korean Phys. Soc., vol. 44, no. 6, pp. 1485-1489, 2004-06 PDF
  • 25 M. S. Kim, I. C. Nam, H. T. Kim, H. T. Shin, T. E. Kim, H. S. Park, K. S. Kim, K. H. Kim, J. B. Choi, K. S. Min, D. J. Kim, D. W. Kang, and D. M. Kim "Optical Subthreshold Current Method for Extracting the Interface States in MOS Systems" IEEE Electron Device Lett., vol. 25, no. 2, pp. 101-103, 2004-02 PDF
  • 24 M. S. Kim, H. T. Kim, S. S. Chi, T. E. Kim, H. T. Shin, H. S. Park, D. J. Kim, K. S. Min, D. W. Kang, and D. M. Kim "Distribution of Interface States in MOS Systems Extracted by the Subthreshold Current in MOSFETs under Optical Illumination" J. of the Korean Phys. Soc., vol. 43, no. 5, pp. 878-883, 2003-11 PDF
  • 23 S. S. Chi, H. T. Kim, M. S. Kim, T. E. Kim, H. T. Shin, H. S. Park, D. J. Kim, K. S. Min, D. W. Kang, and D. M. Kim "Photonic Gated-Diode Method for Extracting the Energy-Dependent and Spatial Distributions of Interface States in MOSFETs" J. of the Korean Phys. Soc., vol. 43, no. 5, pp. 884-891, 2003-11 PDF
  • 22 S. S. Chi, H. T. Kim, M. S. Kim, T. E. Kim, H. T. Shin, H. S. Park, K. H. Kim, K. S. Kim, I. C. Nam, D. J. Kim, K. S. Min, D. W. Kang, and D. M. Kim "Sub-Bandgap Photonic Gated-Diode Method for Extracting the Distributions of Interface States in MOSFETs" Electronics Lett., vol. 39, no. 24, pp. 1761-1763, 2003-11 PDF
  • 21 D. M. Kim, H. C. Kim, and H. T. Kim "Modeling and Extraction of Gate Bias-Dependent Parasitic Source and Drain Resistances in MOSFET's" Solid-State Electronics, vol. 47, no. 10, pp. 1707-1712, 2003-12 PDF
  • 20 D. M. Kim, S. J. Song, H. T. Kim, S. H. Song, D. J. Kim, K. S. Min, and D. W. Kang "Deep-Depletion High-Frequency Capacitance-Voltage Responses under Photonic Excitation and Distribution of Interface States in MOS Capacitors" IEEE Trans. Electron Devices, vol. 50, no. 4, pp. 1131-1134, 2003-04 PDF
  • 19 S. D. Cho, H. T. Kim, and D. M. Kim "Physical Mechanisms on the Abnormal Gate Leakage Currents in Pseudomorphic High Electron Mobility Transistors" IEEE Trans. Electron Devices, vol. 50, no. 4, pp. 1148-1152, 2003-04 PDF
  • 18 H. J. Kim, I. Han, W. J. Choi, Y. J. Park, W. J. Cho, J. I. Lee, D. M. Kim, and J. Zimmermann "Analytic Model for Photo-Response of p-Channel MODFET's" J. of the Korean Phys. Soc., vol. 42, no. supp. issue. 2, pp. s642-s646, 2003-02 PDF
  • 17 S. D. Cho, H. T. Kim, S. J. Song, S. S. Chi, M. S. Kim, W. S. Chang, H. J. Kang, H. T. Shin, T. E. Kim, D. J. Kim, and D. M. Kim "A Physics-Based Continuous Charge-Sheet MOSFET Model using a Balanced Bulk Charge Sharing Method" J. of the Korean Phys. Soc., vol. 42, no. 2, pp. 214-223, 2003-02 PDF
  • 16 S.-H. Seo, S.-W. Kim , J.-U. Lee, G.-C. Kang, K.-S. Roh, K.-Y. Kim , S.-Y. Lee, C.-M. Choi, K.-J. Song, S.-R. Park, J.-H. Park, K.-C. Jeon, D. M. Kim, D. H. Kim , H. Shin, J. D. Lee and B-G. Park "Channel width dependence of hot electron injection program/hot hole erase cycling behavior in silicon-oxide-nitride-oxide-silicon (SONOS) memories" Solid-State Electronics, vol. 52, issue 6, pp. 844-848, 2008-01 PDF
  • 15 S. J. Song, H. T. Kim, S. S. Chi, M. S. Kim, W. S. Chang, S. D. Cho, H. T. Shin, T. E. Kim, H. J. Kang, D. J. Kim, and D. M. Kim "Characterization of Interface States in MOS Systems using Photonic High-Frequency Capacitance-Voltage Responses" J. of the Korean Phys. Soc., vol. 41, no. 6, pp. 892-895, 2002-12 PDF
  • 14 S. D. Cho, S. J. Song, H. C. Kim, Y. C. Kim, S. K. Kim, S. S. Chi, D. J. Kim, and D. M. Kim "Comprehensive Characterization and Modeling of Abnormal Gate Leakage Current in Pseudomorphic HEMTs" J. of the Korean Phys. Soc., vol. 40, no. 4, pp. 577-583, 2002-04 PDF
  • 13 D. M. Kim, H. C. Kim, and H. T. Kim "Photonic High-Frequency Capacitance-Voltage Characterization of Interface States in Metal-Oxide-Semiconductor Capacitors" IEEE Trans. Electron Devices, vol. 49, no. 3, pp. 526-528, 2002-03 PDF