Prof. Kim`s R.P.

Home > People > Professor > Prof. Kim`s R.P.

  • 7 S. Y. Lee, J. U. Lee, S. H. Seo, K. S. Roh, G. C. Kang, K. Y. Kim, C. M. Choi, K. J. Song, S. R. Park, K. C. Jeon, J. H. Park, C. H. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, and D. M. Kim "Extraction Method of the Interface and Nitride Trap Density in Nitride-Based Charge Trapped Flash Memories Using an Optical Response" 2007 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Application of Advanced Semiconductor Devices, pp. 225-228, 2007-06
  • 6 S. H. Seo, S. W. Kim, J. U. Lee, C. H. Lee, G. C. Kang, K. S .Roh, K. Y. Kim, S. Y. Lee, K. J. Song, C. M. Choi, S. R. Park, B. G. Park, H. Shin, J. D. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, and D. M. "Narrow Width Effect of an NROM-type SONOS Flash Memory Device on Program/Erase Cycling Behavior" The 14th Korean Conference on Semiconductors, Vol. 1, pp. 67-68, 2007-02
  • 5 K. S .Roh, S. H. Seo, S. Y. Lee, J. U. Lee, S. W. Kim, G. C. Kang, K. Y. Kim, C. H. Lee, K. J. Song, C. M. Choi, S. R. Park, B. G. Park, H. Shin, J. D. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, and D. M. "Lateral Profiling of Interface States in SONOS Flash Memories Using the Optical Charge Pumping Method" The 14th Korean Conference on Semiconductors, Vol. 2, pp. 1045-1046, 2007-02
  • 4 K. Y. Kim, K. S .Roh, G. C. Kang, S. H. Seo, S. W. Kim, C. H. Lee, J. U. Lee, S. Y. Lee, K. J. Song, C. M. Choi, S. R. Park, B. G. Park, H. Shin, J. D. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, and D. M. "Halo Doping-Dependence and Structural Optimization of Short Channel Effects in Partially Insulated MOSFETs(PiFETs)" The 14th Korean Conference on Semiconductors, Vol. 2, pp. 1085-1086, 2007-02
  • 3 J. U. Lee, S. W. Kim, K. S .Roh, G. C. Kang, S. H. Seo, K. Y. Kim, C. H. Lee, S. Y. Lee, K. J. Song, C. M. Choi, S. R. Park, B. G. Park, H. Shin, J. D. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, and D. M. "Extraction of Si3N4 Trap Density Distribution in SONOS Flash Memories based on Optical C-V Method" The 14th Korean Conference on Semiconductors, Vol. 1, pp. 65-66, 2007-02
  • 2 Lee, S. Y, S. H. Seo, K. S .Roh, J. U. Lee, S. W. Kim, G. C. Kang, K. Y. Kim, C. H. Lee, S. Y. Lee, K. J. Song, C. M. Choi, S. R. Park, B. G. Park, H. Shin, J. D. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, "Extraction of the Interface Trap Density in SONOS Flash Memory Cell Transistors by Optical Subthreshold Current Method" The 14th Korean Conference on Semiconductors, Vol. 2, pp. 1041-1042, 2007-02
  • 1 S. W. Kim, J. U. Lee, K. S .Roh, G. C. Kang, S. H. Seo, K. Y. Kim, C. H. Lee, S. Y. Lee, K. J. Song, C. M. Choi, S. R. Park, B. G. Park, H. Shin, J. D. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, and D. M. "Characterization of Tunnel Oxide Degradation under NAND-type Program/Erase Stresses of SONOS Flash Memory Cell Transistors with 30 nm" The 14th Korean Conference on Semiconductors, Vol. 2, pp. 1023-1024, 2007-02
1
개인정보 처리방침