Conference

Home > Publications > Conference

  • 8 J.‐W. Han S.‐W. Ryu, S. Kim, C.‐J. Kim, M. Im, S.‐J. Choi, J. S. Kim, K. H. Kim, J. S. Oh, M. H. Song, G. S. Lee, Y. C. Park, J. W. Kim, and Y.‐K. Choi "A Unified‐RAM (URAM) Cell Multi‐Functioning Capacitorless DRAM and NVM" IEEE International Electron Device Meeting (IEDM), pp. 929‐032, 2007-12 PDF
  • 7 S. Y. Lee, J. U. Lee, S. H. Seo, K. S. Roh, G. C. Kang, K. Y. Kim, C. M. Choi, K. J. Song, S. R. Park, K. C. Jeon, J. H. Park, C. H. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, and D. M. Kim "Extraction Method of the Interface and Nitride Trap Density in Nitride-Based Charge Trapped Flash Memories Using an Optical Response" 2007 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Application of Advanced Semiconductor Devices, pp. 225-228, 2007-06 PDF
  • 6 S. W. Kim, J. U. Lee, K. S .Roh, G. C. Kang, S. H. Seo, K. Y. Kim, C. H. Lee, S. Y. Lee, K. J. Song, C. M. Choi, S. R. Park, B. G. Park, H. Shin, J. D. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, and D. M. "Characterization of Tunnel Oxide Degradation under NAND-type Program/Erase Stresses of SONOS Flash Memory Cell Transistors with 30 nm" The 14th Korean Conference on Semiconductors, Vol. 2, pp. 1023-1024, 2007-02 PDF
  • 5 J. U. Lee, S. W. Kim, K. S .Roh, G. C. Kang, S. H. Seo, K. Y. Kim, C. H. Lee, S. Y. Lee, K. J. Song, C. M. Choi, S. R. Park, B. G. Park, H. Shin, J. D. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, and D. M. "Extraction of Si3N4 Trap Density Distribution in SONOS Flash Memories based on Optical C-V Method" The 14th Korean Conference on Semiconductors, Vol. 1, pp. 65-66, 2007-02 PDF
  • 4 Lee, S. Y, S. H. Seo, K. S .Roh, J. U. Lee, S. W. Kim, G. C. Kang, K. Y. Kim, C. H. Lee, S. Y. Lee, K. J. Song, C. M. Choi, S. R. Park, B. G. Park, H. Shin, J. D. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, "Extraction of the Interface Trap Density in SONOS Flash Memory Cell Transistors by Optical Subthreshold Current Method" The 14th Korean Conference on Semiconductors, Vol. 2, pp. 1041-1042, 2007-02 PDF
  • 3 K. Y. Kim, K. S .Roh, G. C. Kang, S. H. Seo, S. W. Kim, C. H. Lee, J. U. Lee, S. Y. Lee, K. J. Song, C. M. Choi, S. R. Park, B. G. Park, H. Shin, J. D. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, and D. M. "Halo Doping-Dependence and Structural Optimization of Short Channel Effects in Partially Insulated MOSFETs(PiFETs)" The 14th Korean Conference on Semiconductors, Vol. 2, pp. 1085-1086, 2007-02 PDF
  • 2 K. S .Roh, S. H. Seo, S. Y. Lee, J. U. Lee, S. W. Kim, G. C. Kang, K. Y. Kim, C. H. Lee, K. J. Song, C. M. Choi, S. R. Park, B. G. Park, H. Shin, J. D. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, and D. M. "Lateral Profiling of Interface States in SONOS Flash Memories Using the Optical Charge Pumping Method" The 14th Korean Conference on Semiconductors, Vol. 2, pp. 1045-1046, 2007-02 PDF
  • 1 S. H. Seo, S. W. Kim, J. U. Lee, C. H. Lee, G. C. Kang, K. S .Roh, K. Y. Kim, S. Y. Lee, K. J. Song, C. M. Choi, S. R. Park, B. G. Park, H. Shin, J. D. Lee, K. S. Min, D. J. Kim, D. H. Kim, and D. M. "Narrow Width Effect of an NROM-type SONOS Flash Memory Device on Program/Erase Cycling Behavior" The 14th Korean Conference on Semiconductors, Vol. 1, pp. 67-68, 2007-02 PDF
1